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复杂光学薄膜研制需要高精度的监控方法来控制各个膜层的厚度,这些监控方法包括了石英晶振监控法和各种光学监控方法.针对各种监控方法及其优劣比较的研究文章已经发表许多,总的来说这些方法各有千秋.因此,在实际光学薄膜研制中需要融合各个监控方法才能更好的发挥监控的作用,保证优质光学薄膜的研制成功.复杂光学薄膜的代表包括了宽光谱的分色片以及高精度的带通滤光片.