【摘 要】
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在大规模SoC芯片量产测试中,昂贵的自动测试设备导致了测试成本不断提升.对于单颗芯片而言,其测试成本主要由测试时间来决定,因此在保证测试质量的前提下缩短测试时间是降低测试成本的有效途径之一.SoC通常由众多IP核组成,每个IP核都有其各自的测试矢量集.这些IP核的测试矢量集构成了整个SoC芯片测试矢量集.自动测试设备由于自身存储空间的限制,通常需要经过多次加载、卸载才能完成所有测试矢量集的测试施加
【机 构】
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南通大学杏林学院 南通226019;南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室 南通226019 南
【出 处】
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第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)
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在大规模SoC芯片量产测试中,昂贵的自动测试设备导致了测试成本不断提升.对于单颗芯片而言,其测试成本主要由测试时间来决定,因此在保证测试质量的前提下缩短测试时间是降低测试成本的有效途径之一.SoC通常由众多IP核组成,每个IP核都有其各自的测试矢量集.这些IP核的测试矢量集构成了整个SoC芯片测试矢量集.自动测试设备由于自身存储空间的限制,通常需要经过多次加载、卸载才能完成所有测试矢量集的测试施加.测试矢量集加载、卸载过程通常会消耗相当一部分时间,从而增加了测试成本.此外,优先施加规模较大的测试矢量集可以及早发现芯片故障,节约后续测试时间.本文基于以上两个问题,提出了一种基于蚁群算法的低成本测试矢量集组合与调度方法.实验结果表明,应用本方法进行测试矢量集组合与调度后,平均测试时间减少了8.7％.
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