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衍射增强成像技术是一种获取X射线相移信息来观察物体电子密度变化，从而揭示物体内部结构的无损检测技术。该技术通过测量X射线穿过物体时偏离原来传播方向的折射角来获取X涉嫌得一阶相移信息；其中，如何测量X射线的折射角是衍射增强成像中的关键问题。自1996年，Chapman等人提出几何光学近似(GOA)方法，利用摇摆曲线半高宽位置上两幅图像进行折射角信息提取之后，Maksimenk提出了一种非线性信息(EDEI)提取方法，利用同样的两幅DEI图像，通过求解摇摆曲线变换后表达式的反函数来计算折射角。基于这种思路，本文应用高斯函数表征实测的摇摆曲线，推导了EDEI方法计算折射角的近似解析表达式，通过模拟实验及在北京同步辐射装置上获取的真实实验结果与GOA方法的提取结果进行比较，验证了EDEI方法的正确性及实际应用性能。