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C-V法分析本征非晶硅薄膜钝化晶体表面的特性

来源 :第十二届中国太阳级硅及光伏发电研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：wsd988

【作 者】

：

龚敏刚 肖友鹏 田罡煜 高超 黄海宾 周浪 邓新华 

【机 构】

：

南昌大学 光伏研究院,江西南昌,330031

【出 处】

：

第十二届中国太阳级硅及光伏发电研讨会

【发表日期】

：

2016年期

【关键词】

：

分析 本征 非晶硅薄膜 钝化 晶体表面 

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