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随着纳米材料的不断发展,人们越来越重视纳米材料的表征。特别是晶粒大小,因它直接影响着纳米材料的性能。因此,测定晶粒大小是纳米材料结构表征的重要一环。该文就是利用广角X射线衍射议(WAXD),采用单线付氏线形分析法,详细地研究了不同制备方法、不同材料、不同处理条件的纳米晶的晶粒大小和微观畸变。