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利用现有工业CT无损检测系统进行小缺陷尺寸测量

来源 :全国第九届无损检测学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：daluo13613152523

【作 者】

：

高玉玲 刘艳萍 马燕 

【机 构】

：

西安近代化学研究所十二部 029-8291961

【出 处】

：

全国第九届无损检测学术年会

【发表日期】

：

2010年5期

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