开发非线性光谱技术研究高分子的界面

• 作 者: 李柏霖 李旭 王明聪 开思琪 马永豪 卢晓林
• 机 构: 东南大学生物科学与医学工程学院,生物电子学国家重点实验室,南京,210096
• 出 处: 中国化学会第30届学术年会
• 发表日期: 2016年期
• 关键词: 二阶非线性 光谱技术 高分子界面 表界面 和频振动光谱 振动信号 技术应用 基底材料

　　二阶非线性光学技术-和频振动光谱技术应用于高分子表界面的研究已经有二十年的历史[1]。我们组针对高分子界面开展了一系列的工作[2-6]。目前已经可以探测高分子的表面、隐藏的高分子/金属、高分子/水和高分子/基底材料(如二氧化硅和氟化钙)界面上分子基团的振动信号，从而推断表界面上局部高分子的分子结构。