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本文将Mg、F共掺SnO2,考察不同掺杂比例下对SnO2薄膜光电性质的影响,并探讨实现p-型非晶氧化物TFT的可行性。结果表明,采用Mg、F共掺杂SnO2,不仅能扩宽SnO2薄膜的光学带隙,同时随着掺杂量的增加,SnO2薄膜的电阻率不断增加,霍尔测试结果说明,自由电子浓度不断下降,当靶材摩尔比超过1:4时,薄膜呈p型导电特征。