论文部分内容阅读
对长波HgCdTe光导探测器进行了低于其永久损伤阈值的变动率激光辐照,测量了辐照前后器件的电阻-温度特性,用电阻-温度特性研究材料参数的方法与实验结果进行拟合,结果表明辐照HgCdTe探测器件的组分变大,并由此计算得到探测器性能突变后,器件的电子迁移率与电子浓度均有一定程度减小.认为这可能是由于激光辐照的热效应使N型HgCdTe光导器件的表面及体内均产生的一定的变化而导致的.