半导体碳纳米管扫描隧道谱测量能隙的镜像势效应

来源 :中国化学会第29届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:glory212
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  扫描隧道谱金属衬底上的半导体碳纳米管的测量帯隙长期以来被单粒子的紧束缚模型所解释(例如, Wild rer et al.Nature 391,59(1998)).光学实验进展则证实了碳纳米管的多体理论预言,说明半导体碳纳米管的本征能隙要比单粒子理论结果大出许多.最近的STS实验(Lin et al.Nature Materials 9,235(2010))则说明此前碳纳米管隧道谱测量结果与多体理论的偏离可归因于STS实验中的镜像势效应.本报告介绍这一课题新的实验进展,即在碳纳米的STS测量中我们在碳纳米管和金衬底之间引入一聚合物隔离层,从而可以对镜像势进行有效调节.由此观察到的半导体碳纳米管能隙明显介于多体理论预言和直接的金衬底测量结果之间.还发现随着碳纳米管离开金衬底越远,帯隙测量的镜像势效应趋于减弱.
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