论文部分内容阅读
该文对ＴＴＬ双极运算放大器ＯＰ０７进行了〈’６０〉Ｃｏγ和１ ＭｅＶ电子电离辐照实验，研究了ＯＰ０７运放的电离辐射响应特性和抗总剂量辐射水平，并通过研究其电离辐照敏感参数辐照后在室温和１００℃高温条件下随时间的变化关系，分析了在电离辐射环境中双极运算放大器的损伤机制及参数失效机理，为该类器件在卫星等电离辐射环境下的可靠应用，提供了实验依据。