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非晶薄膜在原子尺度上更加均匀,可以使RRAM性能更稳定,YFe0.5Cr0.5O3-X的结晶温度高达1150℃,能在高温条件下制备出非晶薄膜,使其成为阻变存储器的理想材料.YFe0.5Cr0.5O3-X电致阻变的物理机制符合导电细丝模型,氧空位在其中起着至关重要的作用1.本文通过控制薄膜制备过程中的氧分压获得了具有不同氧空位浓度的样品,并系统研究了氧空位浓度对电致阻变特性的影响.