论文部分内容阅读
静电是物体间相互摩擦、接触和分离产生的。静电，人们柯以利用它。但是，如果对它缺少足够的认识和控制，就会引来许多的麻烦。微电子技术领域，静电放电(ESD)损伤和电过应力(EOS)问题引发的电子产品的失效已成为一个突出的问题。该文是在已有研究成果的基础上，结合型号产品联试中发现和暴露出来的问题，进一步研讨静电放电的控制和防范，努力提高电子产品的可靠性。