河南钧台窑钧瓷元素谱的SRXRF初步分析

• 作 者: 雷勇[1]冯松林[1]范东宇[1]冯向前[1]沙因[1]程琳[1]徐清[1]张颖[1]柴之芳[1]黄宇营[1]何伟[1]赵文军[2]赵青云[2]
• 机 构: 中国科学院高能物理研究所(北京)
• 出 处: '02古陶瓷科学技术国际讨论会
• 发表日期: 2002年期

不同器型古陶瓷的胎和釉层厚度是有较大差别的,尤其是釉层厚度从几十微米到几毫米,受古代陶瓷烧造工艺和条件限制,造成胎和釉层的密度差异,矿物颗粒和气孔的分布是不均匀的.在古陶瓷元素谱的SRXRF无损分析实验中,束斑大小受电子学测量系统死时间的限制,分析数量的重复性会受到影响.为了获得重复的分析数据和寻找最佳的SRXRF无损分析实验参数,对均台窑均瓷进行了初步研究.