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液晶空间光调制器（Liquid crystal spatial light modulator—LCSLM ） 是光电混合信息处理系统的重要接口器件，其振幅调制特性和相位调制特性是应用中所关心的两个重要性质，在使用前应当对器件的这两个特性进行测量。本文提出一种测量 LCSLM 光调制特性的新方法，采用 Mach－Zehnder 干涉仪光路，在其中一臂中引入 4f 成像系统，把LCSLM 放置在 4f 系统的输入面上作为图象输入器件，用位于 4f 系统输出面上的高性能 CCD记录输出图像或输出图像与参考光的干涉条纹。根据输出图像的强度和强度均匀性测量LCSLM 的振幅调制特性；根据干涉条纹的分布测量 LCSLM 的相位调制特性；若引入相移干涉技术还可对其相位调制特性进行高精度定量测量。与已有方法相比，该方法不仅可测量LCSLM 的振幅和相位调制特性曲线，还可测量器件整体的振幅和相位调制均匀性。文中以一种振幅型薄膜晶体管扭曲向列型 LCSLM 为例，测定了其振幅调制响应曲线、振幅调制均匀性和相位调制均匀性。