【摘 要】
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应用X射线衍射技术,研究了超稳分子筛的微观结构,根据最小二乘法求得最佳外推直线,用外推函数法消除系统误差,结合外标工作曲线,经计算机精密计算,得到超稳分子筛的精确晶胞
【机 构】
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辽宁石油化工大学石油化工学院,抚顺,113001
【出 处】
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全国第十一届有色金属原子吸收光谱分析、第十三届发射光谱分析、第十二届X-荧光光谱分析会议
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应用X射线衍射技术,研究了超稳分子筛的微观结构,根据最小二乘法求得最佳外推直线,用外推函数法消除系统误差,结合外标工作曲线,经计算机精密计算,得到超稳分子筛的精确晶胞参数,通过衍射仪对超稳分子筛进行晶胞参数分析,找出影响测定晶胞参数的规律.结果表明,用该方法侧的得超稳分子筛晶胞参数比传统的方法省时,简便,更加精确.
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