二阶非线性光学技术研究高分子的表界面

• 作 者: 卢晓林
• 机 构: 浙江理工大学化学系,浙江理工大学理学院化学系,先进纺织材料与制备技术教育部重点实验室,杭州 310018
• 出 处: 中国化学会第28届学术年会
• 发表日期: 2012年期
• 关键词: 二阶非线性 光学技术 高分子薄膜 和频振动光谱 表界面 振动信号 近似关系 金属表面

　　作为一项二阶非线性光学技术，和频振动光谱在过去二十多年里已经发展成为一项重要的表界面分析手段，并应用于高分子表界面分子结构的研究。[1-3]最近我们以金属表面上的高分子薄膜为例，从实验上证实相对于厚度为～102 nm的薄膜，本体对和频振动信号的贡献可以忽略不计，即电偶极近似关系适用于～102nm的高分子薄膜。