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La1-xSrMnO3空间热控薄膜的主要性能为其在不同温度下的发射率变化情况，为了表征制备的La1-xSrxMnO3薄膜的变温发射率性能，采用稳态卡计法进行变温发射率的测试，研究了不同掺杂含量、不同膜层厚度La1-xSrxMnO3薄膜的发射率-温特性，测试结果表明，稳态卡计法能够有效对La1-xSrxMnO3空间热控薄膜的相变情况进行测试，制备的La1-xSrxMnO3薄膜发射率变化量在140K范围内达到0.261。