【摘 要】
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X射线探测技术广泛应用于无损检测、医疗、军事、工业探伤、施工、航海等领域.CsI(Tl)闪烁晶体光产额高于BGO晶体4倍多,辐照长度较NaI(Tl)晶体短,机械性能好,发射谱峰值
【机 构】
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电子科技大学光电信息学院,四川 成都 610054
【出 处】
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第12届全国发光学学术会议暨发光学相关产业研讨会
论文部分内容阅读
X射线探测技术广泛应用于无损检测、医疗、军事、工业探伤、施工、航海等领域.CsI(Tl)闪烁晶体光产额高于BGO晶体4倍多,辐照长度较NaI(Tl)晶体短,机械性能好,发射谱峰值位于550nm,能与CCD配合组成性能优良的X射线探测器,是一种优良实用的闪烁晶体材料.本文设计了集成化X射线探测器的结构,采用CsI：Tl闪烁晶体为光转换材料,以CCD为光接收器件,将CsI：Tl晶体制成薄膜的形式直接集成于CCD器件表面,并使用Al为保护材料对晶体进行了包裹和分隔,以达到抑制荧光扩散、提高探测器的分辨率的目的.研究了CsI：Tl晶体的光转换性能.通过计算仿真,结果表明当厚度为40μm时CsI(Tl)晶体的荧光透过率最高.并且荧光透过率随入射X光子能量的增加而减小,最佳厚度随入射X光子能量的增加而增加.
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