【摘 要】
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X射线粉末衍射是材料结构表征的主要方法,利用X射线衍射数据可以确定材料的晶粒尺寸、内应力等参数,然而纳米材料由于尺寸效应,使X射线衍射严重宽化,本文采用Rietveld方法对KTiO纳米线的X射线衍射谱进行了分析,并和微晶KTiO材料进行了比较.
【机 构】
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太原理工大学材料科学与工程学院(山西太原) 中国科学院物理研究所电子显微镜重点实验室(北京)
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X射线粉末衍射是材料结构表征的主要方法,利用X射线衍射数据可以确定材料的晶粒尺寸、内应力等参数,然而纳米材料由于尺寸效应,使X射线衍射严重宽化,本文采用Rietveld方法对K<,2>Ti<,6>O<,13>纳米线的X射线衍射谱进行了分析,并和微晶K<,2>Ti<,6>O<,13>材料进行了比较.
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采用溶胶-凝胶法在碳纤维的表面涂覆了氧化铝和钇稳定的氧化锆(YSZ)涂层,透射电镜分析表明涂层中粒子的大小约为10nm.通过比较氧化物涂层前后碳纤维/环氧复合材料的力学性能发现,AlO和YSZ涂层后使复合材料的层间剪切强度分别提高了17.7﹪和52.0﹪,拉伸强度和弯曲强度也均有提高.热分析表明,在碳纤维表面形成的AlO或YSZ涂层在350℃~700℃能有效地减缓碳纤维环氧基复合材料的氧化失重速率
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我们通过二级模板法,结合溶胶凝胶法和电化学沉积,经高温裂解得到了碳纳米管包裹连续均匀的金属碳化物纳米线复合结构有序阵列.碳纳米管的管壁厚度可以按照需要调节,方法简便.
通过二级模板法,结合溶胶凝胶法和电化学沉积,经高温裂解得到了用C纳米管包裹金属纳米线(管)同心电缆式复合纳米结构.碳纳米管和金属纳米管的管壁厚度可以按照需要调节,方法简便.
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