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实验采用DC磁控溅射技术,分别在Al、Ti缓冲层上沉积了TiN陶瓷薄膜.利用X射线衍射、拉曼光谱、扫描电子显微镜、纳米压痕测试和紫外-可见-近红外光谱分别分析了TiN薄膜的结构、机械和光学特性.XRD及Raman结果表明Al/TiN和Ti/TiN均为多晶的TiN,且都具有TiN(111)方向的择优生长.