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本文利用0.1～0.8nm的X-ray数据、26～34nm的EUV数据、0.1～50nm的EUV数据统计分析X-ray辐射与不同波段EUV辐射的相关性，同时统计研究不同等级耀斑的边缘效应。
统计分析太阳耀斑所致X射线及EUV辐射变化特征
【摘 要】
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本文利用0.1～0.8nm的X-ray数据、26～34nm的EUV数据、0.1～50nm的EUV数据统计分析X-ray辐射与不同波段EUV辐射的相关性，同时统计研究不同等级耀斑的边缘效应。
【机 构】
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中国科学院地质与地球物理研究所 北京 100029 中国科学院北京天文台 北京 100029
【出 处】
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中国地球物理学会第二十七届年会
【发表日期】
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2011年6期
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