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Ｄ０探测器是Ｆｅｒｍｉ实验室Ｔｅｖｅｔｒｏｎ上进行Ｐ－Ｐ对撞实验的探测器之一，它在升级改进中使用了交流耦合的硅条探测器，坏的耦合电容使偏置电压直接加到ＳＶＸ读出的输入端。我们测量了坏的耦合电容对ＳＶＸ读出芯片的影响。这些试验表明了坏的耦合电容不仅使相应的道饱和，而且与其相邻的道也受到影响。该文讨论了饱和效应和可能的补救方法。