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SP-3160IV超大规模集成电路测试系统可对各类随机逻辑数字集成电路和各类通用存储器IC、各种通用线性IC及数字/模拟混合IC进行直流参数、动态功能和交流参数的测试。本文根据常用测量不确定度评定方法，规定了SP-3160IV超大规模集成电路测试系统的校准条件、校准项目、校准方法，校准结果的处理及校准周期。并对其测量不确定度进行分析和评定。本方法适用于SP-3160IV超大规模集成电路测试系统的校准。