粉末样品中高含量元素的发射光谱测定——一种有效的减小自吸的方法

• 作 者: 孔凤翔
• 机 构: 河北大学
• 出 处: 中国光学学会江苏、河北、江西三省光学与激光学术交流会
• 发表日期: 1986年期
• 关键词: 粉末样品 高含量 元素 发射光谱 光谱测定 谱线自吸 滞留时间 含量变化 工作条件 小样品 提升量 粒子 方法 电弧

在发射光谱中，由于谱线自吸的存在，一直影响着分析范围的扩大。该文通过对Cd、Cu、Cr、Ga、In、Mg等元素的分析（含量超过1℅），研究了摄谱条件及含量变化对谱线自吸的影响，用减小样品提升量及其样品中粒子在弧隙中滞留时间，有效地减小了谱线的自吸，从而找到了在电弧的工作条件下一种减小自吸的有效方法。（本刊录）