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中性束注入作为磁约束装置非常重要的电流驱动和辅助加热手段，可以把等离子体加热到很高的温度，从而有可能获得净热核聚变能.高能中性粒子束经与等离子体离子的电荷交换、碰撞及与电子的碰撞而转化成高能束离子.约束在磁场中的快离子除了再次电荷交换、MHD不稳定性引起的损失外，非常重要的损失项是波纹损.理论表明纵场波纹会增强离子的热传导、快离子损失和阻尼束引起的环向等离子体旋转等，波纹损失的局域性对装置安全和加热效率从上世纪七十年代以来都是实验和理论研究的重点.中性束注入的高能氘原子电离后会经历聚变反应，产生2.5MeV的中子，分析表明现有实验条件下的主要来源是束-靶反应.中性束注入短脉冲(NBI blip method)实验通过中子辐射率随时间演化来研究快离子的输运和损失，类似实验在D111-D、TFTR、JT-60U和HL-2A上都进行过，获得了良好的结果.本文的工作基于单能快离子经典慢化的中子辐射衰减模型对比实验测得的中子注量信号来研究快离子的波纹损失.通过中子注量诊断和中子波动诊断信号的分析，得出中性束同向注入情况下没有显著的快离子波纹损失.