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光散射法检测光学件缺陷及损伤的探讨
光散射法检测光学件缺陷及损伤的探讨
来源 :第三届四川省光电技术学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:beige0801
【摘 要】
:
大型高功率激光系统对精光学元件的损伤阈值提出了高的要求,而传统观点认为材料中的缺陷是造成损伤的重要原因之一。现代光学检测技术为探测光学元件损伤及其缺陷提供了实验依
【作 者】
:
彭净
叶琳
黄祖鑫
唐灿
蒋晓东
【机 构】
:
中物院激光聚变研究中心(四川)
【出 处】
:
第三届四川省光电技术学术交流会
【发表日期】
:
2000年期
【关键词】
:
光散射法
光学检测技术
光学元件
缺陷
元件损伤
高功率激光系统
在线检测
损伤阈值
实验
传统观点
散射光
探测
材料
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大型高功率激光系统对精光学元件的损伤阈值提出了高的要求,而传统观点认为材料中的缺陷是造成损伤的重要原因之一。现代光学检测技术为探测光学元件损伤及其缺陷提供了实验依据。作者们为了在缺陷存在的条件下,在线检测损伤发生的情况,讨论利用光散射法所做的实验以及如何对散射光进行分析。
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