【摘 要】
：
功率分立器件在电子电力系统起着关键作用,保证高可靠性非常重要.可靠性试验是可靠性评价的主要方式,设计和工艺的确立都要能通过可靠性评价,产品最终的可靠性也要经得起试验的验证.本文阐述了功率分立器件可靠性评价的重要性,介绍了主要的可靠性试验项目和试验失效样品的分析方法及流程,并选取几个典型可靠性失效案例进行了分析.
【出 处】
：
2014`全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会暨第七届中国微纳电子技术交流与学术研讨会
论文部分内容阅读
功率分立器件在电子电力系统起着关键作用,保证高可靠性非常重要.可靠性试验是可靠性评价的主要方式,设计和工艺的确立都要能通过可靠性评价,产品最终的可靠性也要经得起试验的验证.本文阐述了功率分立器件可靠性评价的重要性,介绍了主要的可靠性试验项目和试验失效样品的分析方法及流程,并选取几个典型可靠性失效案例进行了分析.
其他文献
基于计算压弯构件弹塑性失稳的Je(z)ek法,推导了在轴压和弯矩共同作用下具有初始几何缺陷且拉压侧外表面粘贴碳纤维片后的方钢管构件失稳时极限荷载的计算公式.通过采用弹塑性有限元法,结合非线性屈曲理论,进行了受初始几何缺陷影响的碳纤维增强方钢管构件在压弯荷载共同作用下的屈曲分析,并得到极限承载力的数值解.将数值分析结果与Je(z)ek法得到的解析解进行比对,可以发现两种结果吻合较好.计算结果说明,当
高压直流工程中,滤波电容器装置是主要的噪声源之一.对装置中各部分的噪声贡献量的分析对装置的整体降噪有重要意义.本文基于电容器外壳振动数据计算噪声的公式推导了电容器装置噪声贡献系数的计算公式,并利用某换流站的实测数据对电容器装置中电容器外壳及钢架的噪声贡献进行了分析.结果表明电容器外壳振动是电容器装置噪声的主要来源,装置整体的降噪应从降低单台噪声入手;另一方面电容器固定钢架的噪声贡献也不可忽视,可以
高压并联电容器组目前国内常用保护方式对高压并联电容器租的运行安全在一定的时期里起到了巨大的作用,但是随着设备运行也暴露出了一些问题,即保护灵敏度不高,设备对称性故障时无法保护,不能实现设备故障精确定位的问题.本文依托唐山供电公司电容器在线监测成果提出了高压并联电容器组专用保护理念以及实现方法.该专用保护方式依托无线网络方式传输电流、电压基础监测量,实现单台电容器电容量、电容器(串段)电压(差)的监
在W骨架中熔渗铬铜合金获得CuW合金,通过后续不同的热处理工艺获得不同元素分布的CuW合金.通过硬度、导电率综合评价制定合适的固溶时效温度.采用扫描电镜研究了不同热处理工艺下Cr元素的分布规律.结果表明,CuW合金的拉伸与压缩强度随着热处理过程逐渐增大.合金的耐电蚀强度中最大的为时效态处理,依次为熔渗态和固溶态CuW.烧蚀后熔渗态合金表面烧蚀形貌程度严重,时效态合金表面喷溅程度最小.
本文针对并联电容器过电压抑制问题,设计了一种新的基于非晶合金材料的放电线圈,试验证明其可以较好地加快电容器放电速度,抑制过电压的产生.并分析了该抑制器性能参数的影响,为今后改进指出了方向.
本文利用60Coγ射线对两款国产商用Site HBT器件进行了不同剂量的对比辐照实验，研究了其辐照前后直流特性的变化。实验结果以及分析可知，发射结边缘氧化物侧墙是Site HBT器件辐照敏感区域，其中辐射诱导产生的界面态和氧化物陷阱电荷引起的表面复合电流的增大是导致SiteHBT器件电流增益退化的主要机制。而不同器件辐射响应的差异则与不同的器件结构以及工艺参数的不同而引入的不同的能级缺陷有关。
本文测量了SiGe HBT直流增益在60Coγ辐照过程中随剂量及电流注入水平的变化.实验结果显示在累计辐照剂量超过5000Gy(Si)后,器件增益变化与辐照剂量存在线行反比关系,且增益损伤系数与器件注入水平有关;器件在受到总剂量为2.78×104Gy(Si)辐照后,器件静态基极电流Ib、集电极电流Ic、静态直流增益及最大振荡频率fmax出现不同程度退化,但器件其它电参数如特征截止频率fT、交流增益
本文设计了一款N沟道抗辐照功率VDMOS器件，并对该器件进行了总剂量实验。实验结果表明该器件的抗辐照性能良好。本文同时使用中带电压法对引起闭值电压漂移的氧化层固定电荷和界面态电荷进行了分离，计算了不同电荷对闭值电压漂移的贡献。
针对空间辐射导致CCD产生的位移损伤效应，采用IOMeV质子对典型的埋沟CCD器件进行了辐照实验，测试了器件的暗电流、暗电流非均匀性、电荷转移效率、饱和电压等参数的在辐照器件及辐照后退火实验中的变化情况。分析发现，10MeV质子辐射导致CCD暗电流、暗电流均匀性显著变大，电荷转移效率显著变小，而饱和电压总体变化不大。
与传统认为键合拉力的衰减主要取决于金属间化合物及Kirkendall孔洞形成的理论不同,笔者认为,键合拉力值以键合压点是否存在脱键为急剧变化的转折点,压点脱键前的断开位置主要集中在焊球颈部,所以键合拉力主要取决于颈部强度.文章运用颈部缺陷及应力理论解释了金丝键合在高温存储中的拉力衰减及其分段式规律,并基于Arrhenius模型,建立了以时间为变量的键合拉力衰减模型,通过参数拟合获得了模型基本参数,