【摘 要】
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偏光片内部细微、透明的外观缺陷,在普通照明条件下难以成像、难以检测,严重影响液晶面板的质量.针对这些特殊缺陷,本文首次提出了一种采用结构光照明的偏光片外观缺陷检测方
【机 构】
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深圳大学机电与控制工程学院,广东深圳518060
【出 处】
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第十四届全国敏感元件与传感器学术会议
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偏光片内部细微、透明的外观缺陷,在普通照明条件下难以成像、难以检测,严重影响液晶面板的质量.针对这些特殊缺陷,本文首次提出了一种采用结构光照明的偏光片外观缺陷检测方法,并设计了相应的机器视觉检测系统.采用平板显示器作为光源,编程产生黑白线型结构光,实现了偏光片透明缺陷的成像增强,采用Robust Principal Component Analysis(RPCA)算法成功地提取出缺陷的形状、位置和尺寸等信息.采用过度曝光将缺陷成像为暗条纹中的一个亮点,由于缺陷对比度极大,后续图像处理所采用的形态学模板法简单、直接,准确率高,可望用于其它类似薄膜产品的在线缺陷检测.
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