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在广泛收集并深入分析国产电子元器件非工作状态失效率数据及其影响因素的基础上,建立了适合我国电子元器件的非工作状态失效率预计模型.同时在光电器件和电容器等的模型中引入了温度应力系数及其它重要系数,卓有成效地改进了美国AD模型.此外,还提供了应用预计模型确定电子设备非工作状态检测、维修周期的方法,为设备、系统制定最佳的检测、维修方案提供了定量分析依据.