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X射线荧光光谱法(XRF)具有多元素同时测定、样品制备简单快速、分析线性范围宽、效率高、成本低及成熟完备的基体校正理论等特点，因而被广泛应用于用于地质、材料、环境、冶金等样品的常规分析中。但由于XRF的检出限较高，因此限制了其在样品中痕量金属测定方面的应用。本研究采用β-环糊精交联树脂富集后制备成薄样的方法，建立了基于XRF的铜、铬等痕量重金属元素的分析方法。方法充分利用XRF固体直接进样检测和多元素同时测定的优点，克服了传统方法富集后需要洗脱的问题，同时也避免了再次稀释，有效降低了方法的检出限。另外，利用富集过程中的分离作用，去除了大量基体元素，从而有效降低了XRF测试中广泛存在基体效应，无需使用数学校正模型即可获得良好线性。