论文部分内容阅读
该文报道了对掺金（Ａｕ），掺铂（Ｐｄ）二极管的正向压降￣反恢时间兼容性的实验研究结果。观测到掺Ｐｄ二极管的Ｖ〈，ＦＦ〉￣ｔ〈，ｒｒ〉兼容性较掺Ａｕ，Ｐｔ管更为良好，而按照Ｂａｌｉｇａ建立的快恢复二极管特性的理论分析，掺Ｐｄ硅二极管的Ｖ〈，ＦＦ〉￣ｔ〈，ｒｒ〉兼容性应最差。这一事实表明，具体的器件结构和工艺对Ｖ〈，ＦＦ〉￣ｔ〈，ｒｒ〉特性有很重要的影响，对此进行了初步分析和讨论。