数字逻辑集成电路故障检测模型探讨

• 作 者: 李少青 李少虹
• 机 构: 科技大学计算机系安科高技术有限公司
• 出 处: '98全国计算机测试与诊断学术会议
• 发表日期: 1998年9期
• 关键词: 故障模型 故障检测 测试生成

在测试生成中一般认为二态控制端故障和时钟故障是不可测故障，然而这些故障是可以在测试设备中反映出变化的，究其原冈是因为测试生成算法把测试原则f〈’G〉（x） f〈’F〉（x）=1理懈为f〈’G〉（x）＝0，f〈’F〉（x）＝1或F〈’G〉（x）=1f〈’F〉（x）＝0，而丢掉了f〈’G〉（X)=xf〈’F〉(X)=x〈’f〉F(X)=0/1或f〈’G〉(X)=0/1f〈’F〉(X)=x两种能观察到故障变化的情况。该文详细讨论了故障检测模型及其因精简引起的模型与实际的偏差，给出了因测试原则理解问题引起的故障检测范围缩小的解决办法，提出了测试设备修改意见和测试生成算法修改意见。