改性壳聚糖吸附剂性能表征及脱除单质汞的实验研究

• 作 者: 张安超[1]向军[1]孙路石[1]胡松[1]高鹏[2]徐朝芬[1]付鹏[1]
• 机 构: 华中科技大学 煤燃烧国家重点实验室,湖北 武汉 430074
• 出 处: 中国工程热物理学会燃烧学2009年学术会议
• 发表日期: 2009年期

应用VM3000在线测汞仪作为检测手段，在固定床实验台架上，用碘、盐酸和硫酸改性壳聚糖为吸附剂进行脱汞(Hg0)实验研究。采用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、X射线衍射仪(XRD)和热重分析(TGA)等方法对吸附剂进行性能表征。分析发现碘化钾、硫酸(盐酸)和壳聚糖中的氨基发生了化学反应。质子化的壳聚糖更利于吸附碘这一对Hg0有吸附力的活性位；改性破环了壳聚糖的晶体结构且热稳定较好。脱汞实验表明，单质碘改性壳聚糖吸附剂并不能有效的脱除Hg0，壳聚糖吸附剂上碘等活性位的存在形态是其脱除汞的关键因素；KI和H2SO4改性的壳聚糖吸附剂120min内的汞容积量达200μg/g，其最大脱汞效率达90％以上。