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ＣＣＤ在光干涉检测技术中的应用
【机 构】
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温州市电子技术研究所
【出 处】
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全国第二届CCD应用技术学术讨论会
【发表日期】
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1992年期
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在小角散射中，常用Guinier（以后间称G）近似求粒度，一般认为角度越小，近似程度会越高。但G近似是在忽略了粒子间干涉的前题下得到的，而角度越小干涉效应也越大。因而在小角处，不能用G
初步研究了ZnS∶Mn薄膜ACEL光谱的干涉畸变，理论与实验基本相符。所得结论：对ZnS∶Mn薄膜发光器件，由于干涉畸变效应，实际测量结果会出现一些伪峰，伪峰参数因器件参数和接收角不同