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超导薄膜表面阻抗的标准化测试方法探讨

来源 :第十一届全国超导薄膜和超导电子器件学术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：cxdong54321

【作 者】

：

吉争鸣 金飚兵 王浩 许伟伟 陈健 吴培亨 

【机 构】

：

南京大学超导电子学研究所,南京,210093

【出 处】

：

第十一届全国超导薄膜和超导电子器件学术研讨会

【发表日期】

：

2010年12期

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