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应用指数裕度法对典型电子系统进行了中子辐射性能试验评估。结果表明，当只考虑最薄弱环节时，生存概率为0.9564；而考虑较敏感的三个单元时，系统生存概率为0.8905，比0.9564有所下降，评估结果是可信的；当增加不敏感器件进行四单元评估时，系统生存概率反而增加到0.9772，评估结论不符合实际情况。这说明，指数裕度法适合评估敏感器件构成的系统，而非敏感器件必须排除在外，否则可能会影响评估结果，甚至给出错误的结论。