金刚石声表面波器件的频率响应测试

• 作 者: 陈希明;吴小国;吴佚卓;杨保和;
• 机 构: 天津市薄膜电子与通信器件重点实验室,天津理工大学电信学院,天津 300191
• 出 处: 全国第14次光纤通信暨第15届集成光学学术会议
• 发表日期: 2009年期

为了减少高频器件测试时测试条件附加在信号上的噪声，本文采用单端口测试模式(S11)对高频(GHz)双端口声表面波器件(SAWD)频率响应的测试方法，应用Fabry—perot理论模型对该测试方法进行了仿真验证。分别采用S11模式和双端口测试模式(S21)对高频双端口谐振型金刚石声表面波器件进行频响测试。测试和模拟结果表明，采用S11模式测量器件的品质凼数51.29和3dB带宽27.8MHz优于S21模式测量，并与频率响应仿真曲线有着很好的一致性。