【摘 要】
：
本文给出了一个面向Statechart描述的测试用例集自动生成工具FTCL.FTCL由语法解释器,语义解释器和测试集生成器构成.语法解释器是把一个给定的Statechart描述转换成为精简的可形式分析的8元组结构.Statechart描述可以包含并发和层次的状态结构,以及跨级转换,转换优先级,广播通讯等语法特征.语义解释器负责从8元组结构生成对应的语义模型.本文我们通过区分Statechart描述
【机 构】
：
计算机科学与技术学院,哈尔滨工业大学,中国 哈尔滨,黑龙江 150001
论文部分内容阅读
本文给出了一个面向Statechart描述的测试用例集自动生成工具FTCL.FTCL由语法解释器,语义解释器和测试集生成器构成.语法解释器是把一个给定的Statechart描述转换成为精简的可形式分析的8元组结构.Statechart描述可以包含并发和层次的状态结构,以及跨级转换,转换优先级,广播通讯等语法特征.语义解释器负责从8元组结构生成对应的语义模型.本文我们通过区分Statechart描述的外部可观察行为和内部隐含行为提出了适用于测试集生成的可观察语义模型.基于Tretmans在一致性测试方面的研究工作,我们提出了面向Statechart描述的一致性关系,测试集定义和测试集生成器.FTCL是一个年轻的工具在本文最后我们给出了进一步改进的计划.
其他文献
IEEE属性描述语言PSL为描述硬件设计的属性提供了一种标准语言,基于断言的验证方法(ABV)为硬件的设计和验证提出了一种新的很具有优势的验证方法。用PSL作为ABV方法中描述断言的语言,使得ABV中的断言能够被语法精简、语义严格清晰地描述出来.本文通过对FIFO设计和断言的描述,以及对断言的验证结果的描述,给出了如何利用PSL写断言的一般方法,然后再进行模拟仿真,找出使断言失败的原因,以便找出设
随着集成电路设计规模的日益增大,组合验证已成为时序电路的形式化等价性验证的重要手段.为了验证较大规模的电路,通常需要将随机模拟、自动测试生成、二叉判决图、布尔可满足性等多种推理引擎相结合.本文提出了一种基于电路拓扑结构分析的组合等价性验证方法,通过将电路的拓扑结构与算法的复杂性关联起来,在验证过程开始之前,利用min-cut方法,计算表征电路复杂性的“电路宽度”,由此确定最佳的推理引擎,避免传统的
基于可满足性(SAT)的模型检验技术已逐渐成为主流的形式验证技术.在RTL,SAT问题的复杂性表现在位(bit)和字(word)数据类型并存和多样化的约束关系。其中,对数据通路的约束求解尤为关键.本文提出采用二元CSP来求解RTL数据通路的可满足性问题,并给出了算法的流程以及流程中每个步骤的实现方法。我们初步实现了算法,并对实验进行了设计.实验结果表明,即使是在没有采取很多优化策略的条件下,基于C
作者在对模拟锁相环解码器SE567的构成和工作原理进行分析的基础上,提出了测试的解决方案,同时在ASL1000机台上实现并验证了测试方法和测试程序的有效可行性。
本文对一款应用于有线数字电视传输中信道解调解码芯片中内嵌模数转换器的测试方法进行了研究,在分析芯片功能和引脚的基础上,列出了具体的测试夹具开发方案和电路引线图,针对内嵌式ADC的特点,给出了测试向量中测试矢量的时序关系,根据时序关系编写了测试向量,基于以上基础,完成了内嵌式ADC的测量,并总结了测量内嵌式ADC时需要注意的问题。
故障注入是容错机制验证、软件测试、可信性基准程序所必需的重要技术手段.为了保证所选的故障模式具有典型性,必须要对程序中实际发生的各种故障模式进行分类整理,抽取出其特征,形成一组具有代表性的故障模式.本文以Java语言作为载体,详细分析了常见bug模式作为故障施加到目标系统或软件中的方法,提出了针对Java的故障注入方案.
面向对象软件的回归测试中,定位出由于代码的修改所引入的错误,是十分重要的问题,因为定位过程耗时且复杂.本文研究三种主要的定位回归测试错误方法,并对这些方法进行了分析比较,并提出了一种新的基于原子操作的定位回归测试错误的方法,设计出相关定位工具模型,对基于原子操作定位回归测试错误方法进行了实例分析和说明.本文为定位回归测试错误提供了新的思路,具有一定实际应用意义。
In ATE world, testability, reliability and profitability are three very important things. To achieve these, several keys must be highly respected. This paper talks about one of those keys-TDR. which i
AlGaN/GaN基HEMT(High Electron Mobility Transistor,高电子迁移率晶体管)器件在高温、高频、大功率方面具有广泛的应用前景,测量其直流特性是极其重要的一步,但是,由于仪器硬件方面的限制,数据不能方便、快捷的存储,以及由于直流测试步骤繁琐,面板操作复杂等一系列原因,给测试带来新的挑战,基于此,我们开发了一套针对HEMT器件的直流测试系统,对其输出、转移和肖特
本文以一款通用FM发射芯片为例,简单描述了相关集成电路的测试理论,详细介绍了如何利用测试系统实现对其载波频率、内嵌ADC进行测试的测试方法。