论文部分内容阅读
应用第3代上海同步辐射光源，采用X射线类同轴成像法,配合高读写速度及高分辨率的CCD(ChargeCoupledDevice)成像系统，实现了温度梯度区域熔化条件下Sn-Bi合金三次枝晶生长行为及形貌演变的实时观察。试验在不同的温度梯度下捕捉到了枝晶根部断裂及枝晶爬行的动态过程。基于原位成像的试验结果，对三次枝晶的生长速率及枝晶间距分别进行了定量计算和分析。