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用氢气放电产生的离子和X射线打靶的方法研究打靶谱时，观测到了与打靶材料无关的五条X射线新谱线：(1.74keV±0.11)keV，(2.28±O.07)keV，(2.60±0.08)keV，(3.29±0.10)keV，(3.66±0.11)keV。X射线谱的测量是用Si(Li)谱仪和HPGe谱仪实现的。因此要求谱仪系统中的微机多道要能准确的给出五条X射线新谱线谱峰的能量值.测出的五条X射线新谱线的能量是否可信取决于谱仪系统工作的稳定性和能量刻度。通过测量谱仪系统的零点和道数一能量转换系数完成谱仪系统的能量刻度。由于五条新谱线的能量集中在低能区(小于4keV)，所以谱仪系统的零点对能量刻度的影响十分突出。本文通过实验比较了零点测量的四种方法：道数一能量关系直线外推法、脉冲幅度一道数关系直线外推法、双能X射线源法和特征X射线法。比较结果表明：用道数一能量直线外推法测量零点比其它三种方法准确。在谱仪系统的能量和道数关系线性的条件下，道数一能量转换系数由X射线已知能量给出。实验测量结果表明：当能量大于2.0keV时，能量刻度不确定度小于2％.当能量小于2.0keV时，由于低能区的线性失真和零点漂移，能量刻度的不确定度小于6.5％。