锡(Ⅳ)-槲皮素-OP体系荧光光度法测定微量锡的研究

• 作 者: 金家好 罗宗铭
• 机 构: 工业大学化学工程系(广州)
• 出 处: 第六届多元络合物分析应用学术会议
• 发表日期: 1997年期
• 关键词: 槲皮素 体系 荧光 光度法测定 三乙醇胺 激发波长 缓冲溶液 发射波长 微量锡 络合物 铝合金 检测限 直线 方法 纯铝

在ｐＨ５．６的ＨＡＣ－ＮａＡｃ缓冲溶液中，有ＯＰ存在下，Ｓｎ（Ⅳ）与槲皮素形成１：２的荧光络合物。最大激发波长为４５０ｎｍ，发射波长为５１０ｎｍ。Ｓｎ（Ⅳ）在１．６×１０〈’－３〉～３．２×１０〈’－２〉ｍｇ／Ｌ范围内为直线，检测限为０．１７μｇ／Ｌ。有三乙醇胺存在下，方法用于纯铝及铝合金中微量锡的测定，结果满意。