双层二硅酸锂全瓷冠缺陷分布及对断裂失效影响的实验研究

来源 :2016国际口腔及颅颌前沿研究研讨会暨全国口腔生物医学年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Victsman
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  目的:显微CT 检测双层二硅酸锂玻璃陶瓷(bi-LDG)冠内部气孔缺陷的尺寸、圆整度及分布特征,并通过体外实验与模拟分析研究气孔缺陷对bi-LDG 双层冠断裂失效的影响。方法:制作bi-LDG 矩形试件,进行显微CT 扫描,对扫描后的试件做5 次切割,对剖面进行显微镜观察并获取5 个剖面图像;根据切割部位确定对应的显微CT 扫描断层图像,比对二者的灰度差值,分析显微CT 对材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。制作bi-LDG冠16 个并进行显微CT 扫描,VGStudio 分析冠内气孔缺陷的尺寸、圆整度及分布;将冠进行抗折破坏实验,扫描电子显微镜(SEM)观察断裂类型及断裂起源并对比裂纹起源与冠内气孔缺陷的关系,分析气孔缺陷对断裂的影响;构建含及不含气孔缺陷的有限元模型并模拟加载,分析冠受载后其内部气孔缺陷对应力分布的影响。
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