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SiF2是一个不稳定的三原子分子,具有C2v对称性,是刻蚀过程和含Si薄膜制作过程的重要中间体,从发现就引起了人们广泛的关注.精确的光谱信息对于理解SiF2分子的结构和化学性质以及对SiF2参与的化学反应的监测非常重要.我们用MP2,B3LYP和B3PW91方法以及cc-pVQZ和cc-pVTZ基组计算了SiF2的光谱常数.