对电子元器件使用可靠性的几个问题的探讨

来源 :1993年中国航空学会可靠性工程学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lovelywd
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在概述CMOS电路“闩锁”机理的基础上,探讨了在使用过程中防闩锁的一些措施和注意事项;在静电防护方面,重点探讨了潜在性失效问题、高压静电场的静电感应问题、国产集成电路的静电敏感度测试结果以及双极型器件的静电防护问题;本文还提出了一种在现有“保护接零”的基础上增设“专用地线”的方案;最后对在航空机载电子设备中使用塑料封装器件的可行性问题进行了研究。
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