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该文介绍了用双管显微镜测量轮廓线采样点坐标值数的方法。同时，提出了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。
用双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的微机处理程序
【摘 要】
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该文介绍了用双管显微镜测量轮廓线采样点坐标值数的方法。同时，提出了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。
【机 构】
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四川大学测试技术与控制工程系
【出 处】
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全国首届计算机辅助公差设计专题学术会议暨全国高校互换性与测量技术研究会2000年年会
【发表日期】
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2000年期
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