声学声子对纤锌矿AlGaN多层异质结构中电子迁移率的影响

来源 :中国物理学会2013年秋季学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhou75610141
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  由于AlGaN/GaN/AlGaN 多层异质结构较AlxGa1-xN/GaN 单异质结构具有更高的二维电子气(2DEG)浓度和迁移率[1,2],而且非对称AlxGa1-xN/GaN/AlyGa1-yN 异质结构又与实际的高迁移率晶体管(HEMT)最为接近而广泛应用于HEMT 器件中。
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