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近年来的研究表明，激光微调时，在切口的边缘形成受热作用区（Ｈｅａｔ－Ａｆｆｅｃｔｅｄ－Ｚｏｎｅ或简称ＨＡＺ），使该区域电阻材料的性能发生变异，电阻的性能（如ＴＣＲ等）变差，ＨＡＺ对整个电阻性能的影响已由Ｊ．Ｒａｍｉｒｅｚ做了说尺的理论研究。根据Ｊ．Ｒａｍｉｒｅｚ所提出的表征受热作用区的敏感性参数Ｓ，编制了ＣＢＬＴＯＰ程序，对矩形膜状电阻的直进切口ＩＰ－ＣＵＴ）和“Ｌ”形切口激光微调进行了计算机辅助优化。该文简要描述了ＣＢＬＴＯＰ程序；介绍了对一个具体矩形膜状电阻激光微调的计算机模拟；对模拟所获得的数据进行了分析，引出了对一般矩形电阻进行激光微调获得最佳效果的几点有益结论。