薄膜厚度对镀膜长周期光纤光栅模式重组的影响

• 作 者: 欧启标 黄尚荣 曾庆科 秦子雄 李传起
• 机 构: 广西师范大学电子工程学院,广西桂林541004广西职业技术学院计算机与电子信息工程系,广西南宁530662广西师范大学物理科学与技术学院,广西桂林541004
• 出 处: 第四届全国信息光学与光子器件学术会议
• 发表日期: 2012年7期
• 关键词: long period fiber grating (LPFG) resonant wavelength film thickness refractive i

　　基于严格的四层模型,对镀膜长周期光纤光栅在薄膜厚度增加时出现的模式重组现象进行了详细的研究。研究发现,随着薄膜厚度的增加镀膜长周期光纤光栅出现周期性的模式重组,每次的模式重组都伴随着一对相邻的包层模式进入薄膜层由薄膜导引。但这对包层模式并不是同时进入薄膜层的,每次都是HE 模式先进入薄膜层,然后再经过一定的厚度间隔,EH 模式才进入薄膜层。在模式重组过程中,交流耦合系数随薄膜厚度的变化出现急剧变化,在HE 模式进入薄膜层过程中,交流耦合系数急剧减少,而在EH 模式进入薄膜层过程中,交流耦合系数则急剧增加。与两个相邻模式依次进入薄膜层相对应,镀膜长周期光纤光栅的谐振波长在重组过程中出现两次跳变。研究还发现,在模式重组过程中,镀膜长周期光纤光栅的折射率灵敏度与没有重组时相比有明显增加。