X射线荧光光谱熔融法测定锶永磁铁氧体中各组份含量

• 作 者: 朱泽民 杜治国 蒋学良 姚桂菊 陈立清
• 机 构: 北矿磁材科技股份有限公司,北京100070大连交通大学,大连116028
• 出 处: 第十届全国X射线光谱学术报告会
• 发表日期: 2013年7期
• 关键词: 永磁铁氧体 X射线荧光光谱法 熔融制样 含量测定

本文使用自制标准样品,采用混合熔剂熔融样品,用X射线荧光光谱法(XRF)测定锶永磁铁氧体半成品中Fe、Sr、Si等元素的含量。熔融制样有效地消除了矿物效应,并降低了基体效应的影响。实验结果表明,本法准确度高,重现性好,平行测定11次相对标准偏差(RSD)可达到0.1％。该方法用于实际样品分析,其结果与传统化学分析方法结果相符。